Измерение параметров

Тестирование интегральных микросхем – ключевая операция в структуре обеспечения качества микроэлектронного производства, суть которой заключается в проверке электрических параметров ИМС на соответствие заданным техническим условиям и выявлении заведомо дефектных изделий.
Оборудование обеспечивает производительность проверки и измерения до 10 000 м/сх в смену.